X-ray optics and X-ray microanalysis /

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Detalles Bibliográficos
Autores Corporativos: International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis. Stanford University, International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis
Otros Autores: Pattee, H. H., Cosslett, V. E., Engström, Arne
Formato: Acta de conferencia Libro
Lenguaje:Inglés
Publicado: New York : Academic, 1963.
Materias:
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
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245 0 0 |a X-ray optics and X-ray microanalysis /   |c edited by H. H. Pattee, V. E. Cosslett, Arne Engström. 
260 |a New York :   |b Academic,   |c 1963. 
500 |a Trabajos presentados al "Third International Symposium Stanford University, Stanford-California, August 1962". 
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700 1 |a Pattee, H. H.  |9 146014 
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300 |a xvii, 622 p. :   |b il. ;   |c 24 cm. 
504
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