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Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
Quinteros, C.P.
,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo
,
F
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,
Campabadal, F.
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Comparative analysis of MIS capacitive structures with high-K dielectrics under gamma, 16O and p radiation
por
Quinteros, C.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Redín, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón, A.
,
Palumbo
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Campabadal, F.
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Degradación de estucturas soi en ambientes hostiles
por
Lozano, A.
,
Palumbo
,
F
.
,
Malatto, L.
,
Gimenez, G.
,
Bonaparte, J.
,
TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017
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Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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Bonaparte, J.
,
TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
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