Observación de capas de grafeno mediante contraste óptico y dispersión Raman

por Bautista Flores, Claudia; Instituto de Investigaciones en Materiales (IIM), UNAM, Apartado postal 70-360, 04510 México, D.F., Tel. 55 48 45 49 21, Fax: 56161251, Sato Berrú, Roberto Ysacc; Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico, Circuito Exterior s/n, UNAM, Apdo. Postal 70-186, 04510, México, D. F., Mendoza López, Doroteo; IIM-UNAM
Publicado 2015