Mostrando
1 - 12
Resultados de
12
Para Buscar '
Faigón, A.
'
Saltar al contenido
BDU
3
Inicio
Su cuenta
Salir
Entrar
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Autor
Faigón, A.
Mostrando
1 - 12
Resultados de
12
Para Buscar '
Faigón, A.
'
, tiempo de consulta: 0.02s
Limitar resultados
Ordenar
Relevancia
Fecha Descendente
Fecha Ascendente
Autor
Título
1
Extension of the measurement range of MOS dosimeters using radiation induced charge neutralization
por
Faigón
,
A
.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.
,
Krusczenski, G.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
2
Epidermal characters of Pterocactus (Opuntioideae, Cactaceae)
por
Faigón
,
A
.
,
Galati, B.G.
,
Rosenfeldt, S.
,
Kiesling, R.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
3
Ring oscillators response to irradiation and application to dosimetry
por
Carbonetto, S.
,
Lipovetzky, J.
,
Inza, M.G.
,
Redin, E.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
4
Stand alone MOS dosimetry system for high dose ionizing radiation
por
Inza, M.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.
,
Carbonetto, S.
,
Faigon
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
5
Temperature effects on metal oxide semiconductor dosimeters during switched bias irradiation
por
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.
,
Inza, M.G.
,
Carbonetto, S.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
6
Radiation effects on high-k dielectrics. Measurement technique and first results
por
Salomone, L.S.
,
Kasulin, A.
,
Inza, M.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.
,
Carbonetto, S.
,
Campabadal, F.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
7
Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
por
Carbonetto, S.H.
,
García Inza, M.A.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.G.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Faigon
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
8
Comparative analysis of MIS capacitance structures with high-k dielectrics under gamma, 16O and p Radiation
por
Quinteros, C.P.
,
Salomone, L.S.
,
Redin, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón
,
A
.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal, F.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
9
Temperature error minimization in low dose radiation measurements with 140 nm MOS dosimeters
por
Carbonetto, S.H.
,
Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.G.
,
Salomone, L.S.
,
Kasulin, A.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
10
Charge trapping/detrapping in HfO2-based MOS devices
por
Salomone, L.S.
,
Carbonetto, S.H.
,
Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redín, E.G.
,
Campabadal, F.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
11
Comparative analysis of MIS capacitive structures with high-K dielectrics under gamma, 16O and p radiation
por
Quinteros, C.
,
Sambuco Salomone, L.
,
Redín, E.
,
Rafí, J.M.
,
Zabala, M.
,
Faigón
,
A
.
,
Palumbo, F.
,
Campabadal, F.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
CONF
Agregar a favoritos
Guardado en:
12
Experimental evidence and modeling of two types of electron traps in Al2O3 for nonvolatile memory applications
por
Sambuco Salomone, L.
,
Lipovetzky, J.
,
Carbonetto, S.H.
,
García Inza, M.A.
,
Redin, E.G.
,
Campabadal, F.
,
Faigón
,
A
.
Aportado por:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA)
Enlace del recurso
JOUR
Agregar a favoritos
Guardado en:
Herramientas de búsqueda:
RSS
—
Enviar por Correo electrónico esta Búsqueda
Materias Relacionadas
MOS devices
Dosimetry
Nanoelectronics
Dosimeters
Radiation effects
Ionizing radiation
High-k dielectric
High-k gate dielectrics
Irradiation
Metal oxide semiconductor
Metallic compounds
Mos dosimeter
Radiation shielding
Capacitance
Comparative analysis
Hafnium oxides
High-K gate dielectrics
Insulating layers
MOS capacitors
Measurement techniques
Order of magnitude
Radioactivity
Temperature
Zero temperature coefficients
radiation effects
8-bit microcontrollers
Absorbed dose
Alumina
Aluminum
Analytic expressions
Cargando...