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por Cisneros, J. I., Liljegren, G., Lindqvist, T., Lopez Garcia, A.
Publicado 1968

Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos

por Guraya, M. M., Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, Jose Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., Marques, F. C.
Publicado 1989

Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas de XPS y de EELS. Parte I : densidades atómicas y de ligaduras

por Guraya, M. M., Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias Da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., Marques, F. C.
Publicado 1989

Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas de XPS y de EELS. Parte I : densidades atómicas y de ligaduras

por Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias Da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., Marques, F. C.
Publicado 1989

Estudio de compuestos amorfos de Si-N combinando mediciones ópticas, de XPS y de EELS Parte II : fotoemisión de niveles internos

por Guraya, María Mónica, Ascolani, Hugo Del Lujan, Zampieri, G., Dias da Silva, José Humberto, Cisneros, J. I., Cantão, M., Marques, F. C.
Publicado 1989