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Characterization of border structure using Fractal Dimension in melanomas
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Zero temperature coefficient bias in MOS devices. Dependence on interface traps density, application to MOS dosimetry
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Carbonetto
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García Inza, M.A.
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Lipovetzky, J.
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Temperature error minimization in low dose radiation measurements with 140 nm MOS dosimeters
por
Carbonetto
, S.
H
.
,
Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redin, E.G.
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Salomone, L.S.
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Kasulin, A.
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Charge trapping/detrapping in HfO2-based MOS devices
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Salomone, L.S.
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Inza, M.A.G.
,
Lipovetzky, J.
,
Redín, E.G.
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Campabadal, F.
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Faigón, A.
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5
Experimental evidence and modeling of two types of electron traps in Al2O3 for nonvolatile memory applications
por
Sambuco Salomone, L.
,
Lipovetzky, J.
,
Carbonetto
, S.
H
.
,
García Inza, M.A.
,
Redin, E.G.
,
Campabadal, F.
,
Faigón, A.
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