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Titulos:
A metrologia e suas applicacoes: padroes de comprimento
Idiomas:
Pt
Lugar de Edición:
Editor:
Fecha de Edición:
1936.
Palabras clave:
METROLOGIA; MEDICIONES
Campo 003:
AEI
Campo 041:
Pt
Campo 100:
^aMeiller, Joao Luis
Campo 245:
^aA metrologia e suas applicacoes: ^bpadroes de comprimento
Campo 246:
Campo 260:
^c1936.
Campo 300:
^a55 p.; il.
Campo 650:
METROLOGIA
Campo 650:
MEDICIONES
Proveniencia:
Universidad de la Defensa Nacional - Facultad del Ejército - Escuela Superior Técnica (EST) - Biblioteca
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Institucion:
Universidad de la Defensa Nac.
Dependencia:
Fac.Ejército - Escuela Superior Técnica

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