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Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI
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1
Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI
por
Monasterios, G.
,
Silva, H.
,
Henze, A.
,
Tempone, N.
,
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
,
SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10
Publicado 2013
Aportado por:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI
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Monasterios, G.
,
Silva, H.
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Henze, A.
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Tempone, N.
,
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
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INTI
1
Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
1
Colecciones
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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Formato
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2
Autor
Henze, A.
2
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR
2
Monasterios, G.
2
SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 10
2
Silva, H.
2
Tempone, N.
2
Lenguaje
Español
2
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