Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
CARRIERS INJECTION
3
DBIE
3
DIELECTRIC-BREAKDOWN-INDUCED-EPITAXY
3
DIODO CONTROLADO POR PUERTA
3
FIABILIDAD
3
GAMMA RADIATION
3
GATE CONTROLLED DIODE
3
INYECCION DE PORTADORES
3
METAL GATES
3
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
3
METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR
3
MOS
3
OXIDOS ULTRA DELGADOS
3
PROGRESSIVE BREAKDOWN
3
RADIACION GAMMA
3
RELIABILITY
3
RUPTURA PROGRESIVA
3
ULTRA-THIN OXIDES
3
Ageing
1
CMOS
1
Circuitos integrados
1
Confiabilidad
1
Envejecimiento
1
Integrated circuits
1
Progressive breakdown
1
Radiofrecuencia
1
Radiofrequency
1
Reliability
1
Ruptura progresiva
1
-
1por Pazos, Sebastián MatiasMaterias: “...Reliability...”
Publicado 2021
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Tesis doctoral acceptedVersion -
2por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RELIABILITY...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
3por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RELIABILITY...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
4