Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Repositorios
18
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Sistema Interamericano de Metrología
12
Metrología
11
Calibración
8
Mediciones
6
Patrones
5
Comparadores
3
Frecuencia
3
Fuerza
2
Incertidumbre
2
Instrumentos de medición
2
Kilogramo
2
Laboratorios
2
Masa
2
Medidores
2
Peso
2
Resistores
2
Ángulos
2
Banda ancha
1
Criogenia
1
Dispersión
1
Ensayos mecánicos
1
Frecuencímetros
1
Inductancia
1
Inductores eléctricos
1
Interferometría
1
Microondas
1
Micrófonos
1
Precisión
1
Transductores
1
Unidades de medición
1
-
1por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, CanadáMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2007
article -
2por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, CanadáMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2007
article -
3por Villarroel-Poblete, C., Torres-Guzman, , J. C., Averlant, P., Knott, A., Kumme, R., Robles-Carbonell, J. A., Ramirez-Ahedo, D., Giobergia, L. R., International Conference IMEKO TC3, 20, International Conference IMEKO TC16, 3, International Conference IMEKO TC22, 1Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2007
conferenceObject -
4Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
5por Decker, J.E., Altschuler, J., Beladie, H., Malinovsky, I., Prieto, E., Stoup, J., Titov, A., Villesid, M., Pekelesky, J.R., Dimensional Metrology Program, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires, AR, Instituto Nacional de Metrología, Normalizaçâo e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro, BR, Centro Español de Metrología. CEM. Madrid, ES, National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg, US, Centro Nacional de Metrología. CENAM. Querétaro, MX, National Research Council. NRC. Ottawa, CAMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2006
report -
6por Villarroel-Poblete, C., Torres-Guzman, , J. C., Averlant, P., Knott, A., Kumme, R., Robles-Carbonell, J. A., Ramirez-Ahedo, D., Giobergia, L. R., International Conference IMEKO TC3, 20, International Conference IMEKO TC16, 3, International Conference IMEKO TC22, 1Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2007
conferenceObject -
7Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
8Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
9por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
article -
10por Villarroel Poblete, Juan Christian, Oliva C., Hernán, Soto Pinto, Luis Rubén, Cárdenas, Alejandro, Torres Guzmán, Jorge C., Dajes, Arístides, Savarín, Alejandro, IMEKO World Congress “Measurement in Research and Industry”, 21Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
conferenceObject -
11por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
12por Taibo, L. N., Barceló, L. E., INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2002
conferenceObject -
13por Izquierdo, Daniel, Moreno, José Ángel, Castro, Blanca Isabel, de Barros e Vasconcellos, Renata, Cazabat, Marcelo, Koffman, Andrew, Cote, MarcelMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
14Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
15por Villarroel Poblete, Juan Christian, Oliva C., Hernán, Soto Pinto, Luis Rubén, Cárdenas, Alejandro, Torres Guzmán, Jorge C., Dajes, Arístides, Savarín, Alejandro, IMEKO World Congress “Measurement in Research and Industry”, 21Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
conferenceObject -
16por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
17por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
article -
18por Izquierdo, Daniel, Moreno, José Ángel, Castro, Blanca Isabel, de Barros e Vasconcellos, Renata, Cazabat, Marcelo, Koffman, Andrew, Cote, MarcelMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
19Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
20por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article