Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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1por Riganti, J., Riganti, J., INTI-Física. Buenos Aires, AR, INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivo, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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2por Forastieri, J., Lupo, S., Filas, G., INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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3por Forastieri, J., Jungman, D., Miranda, V., Marzoratti, E., INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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4por Giorgio P., Layño, P., Tischler, M., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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5por Jiménez Rebagliati, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, investigación aplicada, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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6por Méndez, H., Passarino, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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7por Serra, R. D., Passarino, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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8por Boaglio, C., Laiz, H., Iuzzolino, R., Melo, J., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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9por Di Lillo, L., Laiz, H., INTI-Física. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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