Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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Materias dentro de su búsqueda.
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Metrología
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Calibración
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metrología
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AMPLIFICADOR LOCK-IN
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ANALISIS DE FRANJAS
3
ATOMIC AND OPTICAL PHYSICS
3
ATOMIC CLOCK
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Agrimensura
3
CONTROL THEORY
3
CPT
3
DISTRIBUCION DE WIGNER-VILLE
3
Dispersión
3
EMBEDDED SYSTEMS
3
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1por Ibarra, SantiagoMaterias: “...Metrología...”
Publicado 2019
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Informe técnico draft -
2por Alberini, M.J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Rafaela, AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
other -
3por Gattucci, L., Kornblit, F., Correa, V., Quiroga, S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
4por Alberini, M.J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Rafaela, AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
other -
5por Gattucci, L., Kornblit, F., Correa, V., Quiroga, S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
6por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, CanadáMaterias: “...Metrología...”
Publicado 2007
article -
7por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, CanadáMaterias: “...Metrología...”
Publicado 2007
article -
8Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
9Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
10por Viaggio, A., Kornblit, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013, Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11Materias: “...Metrología...”
Publicado 2013
article -
11por Álvarez, L., Bastida, K., Mingolla, G., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
12Materias: “...metrología...”
other Material Didáctico -
13por Forastieri, J., Lupo, S., Brenta, H., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
14por Goglino, A., Pereyra, M., Castillo, A., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Departamento de Desarrollo del Personal. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
15por Savarin, A., Kirsch, G., Wüthrich, C., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
16por Savarin, A., Kirsch, G., Wüthrich, C., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
17por Álvarez, L., Bastida, K., Mingolla, G., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
18por Viaggio, A., Kornblit, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013, Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11Materias: “...Metrología...”
Publicado 2013
article -
19por Forastieri, J., Lupo, S., Brenta, H., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
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20por Goglino, A., Pereyra, M., Castillo, A., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Departamento de Desarrollo del Personal. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
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