Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
CARRIERS INJECTION
2
DBIE
2
DIELECTRIC-BREAKDOWN-INDUCED-EPITAXY
2
DIODO CONTROLADO POR PUERTA
2
FIABILIDAD
2
GAMMA RADIATION
2
GATE CONTROLLED DIODE
2
INYECCION DE PORTADORES
2
METAL GATES
2
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
2
METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR
2
MOS
2
OXIDOS ULTRA DELGADOS
2
PROGRESSIVE BREAKDOWN
2
RADIACION GAMMA
2
RELIABILITY
2
RUPTURA PROGRESIVA
2
ULTRA-THIN OXIDES
2
Ageing
1
CMOS
1
Circuitos integrados
1
Confiabilidad
1
Envejecimiento
1
Integrated circuits
1
Progressive breakdown
1
Radiofrecuencia
1
Radiofrequency
1
Reliability
1
Ruptura progresiva
1
-
1por Pazos, Sebastián MatiasMaterias: “...Reliability...”
Publicado 2021
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Tesis doctoral acceptedVersion -
2por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RELIABILITY...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
3por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...RELIABILITY...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion