Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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Repositorios
9
Revistas
1
Materias dentro de su búsqueda.
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Metrología
Calibración
19
Incertidumbre
14
Patrones
13
Mediciones
11
Sistema Interamericano de Metrología
11
Instrumentos de medición
7
Comparadores
6
Frecuencia
6
Medidores
6
Masa
5
Metrology
5
Energía eléctrica
4
Fuerza
4
Dispersión
3
Física
3
INTI
3
Mediciones eléctricas
3
Resistores
3
Volumen
3
Acústica
2
Agrimensura
2
Anegamiento
2
Calidad
2
Corriente alterna
2
Corriente continua
2
Corriente eléctrica
2
Determinación (química)
2
Errores
2
Espectroscopía
2
-
1por Ibarra, SantiagoMaterias: “...Metrología...”
Publicado 2019
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Informe técnico draft -
2por Alberini, M.J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Rafaela, AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
other -
3por Gattucci, L., Kornblit, F., Correa, V., Quiroga, S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
4por Wong, George, Wu, Lixue, National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos, Centro Nacional de Metrología. CENAM, México, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil, Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina, Institute for National Measurement Standards. INMS, CanadáMaterias: “...Metrología...”
Publicado 2007
article -
5Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
6por Savarin, A., Kirsch, G., Wüthrich, C., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
7por Álvarez, L., Bastida, K., Mingolla, G., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
8por Viaggio, A., Kornblit, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013, Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11Materias: “...Metrología...”
Publicado 2013
article -
9por Forastieri, J., Lupo, S., Brenta, H., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
10por Goglino, A., Pereyra, M., Castillo, A., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Departamento de Desarrollo del Personal. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
11Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
12por Villarroel Poblete, Juan Christian, Oliva C., Hernán, Soto Pinto, Luis Rubén, Cárdenas, Alejandro, Torres Guzmán, Jorge C., Dajes, Arístides, Savarín, Alejandro, IMEKO World Congress “Measurement in Research and Industry”, 21Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
conferenceObject -
13por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
14por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2015
article -
15por Izquierdo, Daniel, Moreno, José Ángel, Castro, Blanca Isabel, de Barros e Vasconcellos, Renata, Cazabat, Marcelo, Koffman, Andrew, Cote, MarcelMaterias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
article -
16por Brenta, H., Lupo, S., Chamorro, A., Cazzasa, E., Forastieri, J., Rosso, A., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13Materias: “...Metrología...”
Publicado 2017
conferenceObject -
17por López, E.E., Santos, L., Rillo, S., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Química. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Metrología...”
Publicado 2015
article -
18por Becerra, L. O., Peña, L. M., Luján, L., Díaz, J. C., Centeno, , L. M., Loayza, V. M., Cacais, F. A., Ramos, O., Rodriguez, S., Garcia, F., Leyton, F., Santo, C., Caceres, J., Kornblit, F., Leiblich, J., Claude, J.Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
Publicado 2016
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19Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
article -
20Materias: “...Sistema Interamericano de Metrología...”
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