Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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1por Giorgio P., Layño, P., Tischler, M., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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2por Jiménez Rebagliati, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, investigación aplicada, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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3por Méndez, H., Passarino, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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4por Serra, R. D., Passarino, M. N., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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5por Boaglio, C., Laiz, H., Iuzzolino, R., Melo, J., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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