Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Patrones
Metrología
13
Calibración
9
Sistema Interamericano de Metrología
5
Comparadores
4
INTI
3
Incertidumbre
3
Mediciones
3
Medidores
3
Resistores
3
Trazabilidad
3
Instrumentos de medición
2
Tiempo
2
Ángulos
2
Acústica
1
Amplificadores
1
Bloques
1
Calidad
1
Corriente eléctrica
1
Criogenia
1
Energía eléctrica
1
Ensayos mecánicos
1
Equipos médicos
1
Errores
1
Frecuencia
1
Interferometría
1
Interferómetro
1
Masa
1
Mediciones volumétricas
1
Micrófonos
1
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1conferenceObject
-
2article
-
3conferenceObject
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4por Schweitzer, Diego A., Casais, José Luis, Congresso Brasileiro de Metrologia, 8, Congresso Internacional de Metrologia Elétrica (SEMETRO), 11
Publicado 2015conferenceObject -
5article
-
6conferenceObject
-
7article
-
8por Luna, D., Pérez, D., Hase, H., Pasquaré, A., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
9
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10
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11por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.
Publicado 2015article -
12
-
13por Sánchez, J., Quille, R., Comi, C., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
14por Iuzzolino, R. J., Bierzychudek, M. E., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017conferenceObject -
15
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16por Brum Vieira, Luiz Henrique, Stone, Jack, Viliesid, Miguel, Gastaldi, Bruno R., Przybylska, Joanna, Chaudhary, K. P.
Publicado 2015article -
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