Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Repositorios
12
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Patrones
9
Metrología
7
Calibración
6
Sistema Interamericano de Metrología
5
Mediciones
4
Comparadores
3
Resistores
3
Incertidumbre
2
Instrumentos de medición
2
Interferómetros
2
Medidores
2
Patrón
2
Tiempo
2
Ángulos
2
Bloques
1
Criogenia
1
Ensayos mecánicos
1
Frecuencia
1
INTI
1
Interferometría
1
Interferómetro
1
Teoría cuántica
1
Trazabilidad
1
-
1por Giarmana, G., Iuzzolino, R., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
2por Giarmana, G., Iuzzolino, R., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
3por Álvarez, L., Bastida, K., Yapur, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11Materias: “...Patrones...”
Publicado 2013
article -
4por Álvarez, L., Bastida, K., Yapur, F., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11Materias: “...Patrones...”
Publicado 2013
article -
5Materias: “...Patrones...”
article -
6Materias: “...Patrones...”
article -
7
-
8
-
9Materias: “...Patrones...”
article -
10Materias: “...Patrones...”
article -
11Materias: “...Patrones...”
article -
12por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
13Materias: “...Patrones...”
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14por Viliesid, Miguel, Colín Castellanos, Carlos, Chávez, T., Chaudhary, K. P., Dvořáček, Frantisek, Stoup, John, Santos Barros, Wellington, Vaudagna, Leandro, Morales, Roberto, Acquarone, Alejandro, Carrasco, J., Vega, M., Salazar, M., Gil, V., Dimas, J., Reyes, E., Hamilton, F., Reddock, T., Durga, S., Burton, T.Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
15por Amuso, M.A., Giorgio, P., Lewis, C.T., Liberman, E., Rangugni, G., Tischler, M., Máciel, M.A.D., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro, BRMaterias: “...Patrones...”
Publicado 1989
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16por Brum Vieira, Luiz Henrique, Stone, Jack, Viliesid, Miguel, Gastaldi, Bruno R., Przybylska, Joanna, Chaudhary, K. P.Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
17Materias: “...Patrones...”
article -
18Materias: “...Patrones...”
article -
19por Brum Vieira, Luiz Henrique, Stone, Jack, Viliesid, Miguel, Gastaldi, Bruno R., Przybylska, Joanna, Chaudhary, K. P.Materias: “...Patrones...”
Publicado 2015
article -
20por Beer, E., Giarmana, G., Álvarez, L., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12Materias: “...Patrón...”
Publicado 2015
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