Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Tipo de registro dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
Materias dentro de su búsqueda.
MOS
4
CARRIERS INJECTION
3
DBIE
3
DIELECTRIC-BREAKDOWN-INDUCED-EPITAXY
3
DIODO CONTROLADO POR PUERTA
3
FIABILIDAD
3
GAMMA RADIATION
3
GATE CONTROLLED DIODE
3
INYECCION DE PORTADORES
3
METAL GATES
3
METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
3
METAL-OXIDO-SEMICONDUCTOR
3
OXIDOS ULTRA DELGADOS
3
PROGRESSIVE BREAKDOWN
3
RADIACION GAMMA
3
RELIABILITY
3
RUPTURA PROGRESIVA
3
ULTRA-THIN OXIDES
3
Circuitos neuromórficos
1
Conmutación Resistiva
1
Doctorado en Ingeniería
1
Envejecimiento
1
Fiabilidad
1
High-K
1
Irradiación
1
Procesamiento de Señales e Imágenes
1
RRAM
1
Reconocimiento de Patrones
1
Redes Neuronales
1
Ruptura dieléctrica
1
-
1por Aguirre, Fernando LeonelMaterias: “...Fiabilidad...”
Publicado 2021
Aportado por: RIA - Repositorio Institucional Abierto (UTN)Tesis doctoral acceptedVersion -
2por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...FIABILIDAD...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
3por Palumbo, Félix Roberto MarioMaterias: “...FIABILIDAD...”
Publicado 2005
Tesis doctoral publishedVersion -
4