Tipo de registro dentro de su búsqueda.
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1por Boaglio, C., Laiz, H., Iuzzolino, R., Melo, J., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivoMaterias: “...Patrones...”
Publicado 2002
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