Autor
Abuin, G.
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Amelotti, F.
1
Amore, S.
1
Averlant, P.
1
Ayres, Carlos
1
Berto, F.
1
Castañeda, R.
1
Castro, A.
1
Castro, F.
1
Castro, Á
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Centro Nacional de Metrología. CENAM, México
1
Charreau, G.
1
Cogno, J.
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Concari, Sonia
1
Debatin, R. M.
1
Di Lillo, Lucas
1
Fabro, M.
1
Faure, Sebastián
1
Faverio, C.
1
Franco, A. M. R.
1
Garcia, Ricardo
1
Giobergia, L. R.
1
Giorgi, L.
1
Ihlenfeld, W. G. K.
1
Institute for National Measurement Standards. INMS, Canadá
1
Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMetro, Brasil
1
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI, Argentina
1
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Construcciones. Buenos Aires, AR
1
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Lácteos. Buenos Aires, AR
1
Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-SAI. Buenos Aires, AR
1
International Conference IMEKO TC16, 3
1
International Conference IMEKO TC22, 1
1
International Conference IMEKO TC3, 20
1
International Conference on Electronics, Communications and Networks (CECNet), 3
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Irisity, Mariana
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Izquierdo, D.
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Kawior, J.
1
Knott, A.
1
Kumme, R.
1
Labacá, P.
1
Laiz, Hector
1
Lerro, Federico
1
Marchisio, Susana
1
Murphy, M.
1
National Institute of Standards and Technology. NIST, Estados Unidos
1
Petrocelli, S.
1
Plano, Miguel
1
Ramirez-Ahedo, D.
1
Reynoso, T.
1
Robles-Carbonell, J. A.
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