Autor
Jornadas de desarrollo e innovación, 4
Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR
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Electrónica e Informática, desarrollo tecnológico, precompetitivo
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Fraigi, L. B.
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Giorgio P.
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INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR
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Instrumentación, control y metrología, desarrollo de nuevos servicios, precompetitivo
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Layño, P.
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Milano, O.
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Tischler, M.
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