Oxidos delgados para micro y nanoelectrónica : degradación, ruptura y aplicaciones tecnológicas

El trabajo desarrollado en esta Tesis se focaliza en el estudio de mecanismos de transporteeléctrico involucrados en la degradación y eventual ruptura de películas dieléctricas (óxidosdelgados). Éstos forman parte de una infinidad de dispositivos que son fabricados en vistas deposibles aplicaciones...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Quinteros, Cynthia Paula
Formato: Tesis Doctoral
Lenguaje:Español
Publicado: 2016
Materias:
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n5923_Quinteros
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