Estudio de la dinámica de los sistemas memristivos : efecto del ruido y la temperatura en el fenómeno de la conmutación resistiva

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El objetivo de esta Tesis es el de estudiar el efecto del ruido eléctricoy la temperatura en sistemas memristivos. Este tipo de sistemaspresenta el fenómeno conocido como conmutación resistiva (CR), enel cual se basan las memorias electrónicas ReRAM. Básicamente, la CR se caracteriza por el cambio a...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Patterson, Germán A.
Formato: Tesis Doctoral
Lenguaje:Español
Publicado: 2014
Materias:
CONMUTACION RESISTIVA
MEMRISTOR
RUIDO
TEMPERATURA
RESISTIVE SWITCHING
NOISE
TEMPERATURE
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n5625_Patterson
Aporte de:
Biblioteca Digital - Facultad de Ciencias Exactas y Naturales (UBA) de Universidad de Buenos Aires

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