Palumbo, F. R. M. (2005). Degradación de óxido de puerta en estructuras metal-óxido-semiconductor (M.O.S.).
Cita Chicago Style (17a ed.)Palumbo, Félix Roberto Mario. Degradación De óxido De Puerta En Estructuras Metal-óxido-semiconductor (M.O.S.). 2005.
Cita MLA (8a ed.)Palumbo, Félix Roberto Mario. Degradación De óxido De Puerta En Estructuras Metal-óxido-semiconductor (M.O.S.). 2005.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.