Propiedades eléctricas y piezorresistivas de resistores de película gruesa
Los resistores de película gruesa tipo cermet, ajustados por el método convencional de recorte, sufren cambios irreversibles en ciclos sucesivos de deformación. En este trabajo se evalúa la estabilidad de resistores ajustados por irradiación láser. Se estudian la resistencia, coeficiente térmico de...
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| Autores principales: | , , |
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1996
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v08_n01_p198 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Los resistores de película gruesa tipo cermet, ajustados por el método convencional de recorte, sufren cambios irreversibles en ciclos sucesivos de deformación. En este trabajo se evalúa la estabilidad de resistores ajustados por irradiación láser. Se estudian la resistencia, coeficiente térmico de resistencia y factor extensométrico de resistores con y sin tratamiento superficial. La superficie irradiada fue caracterizada por espectroscopia Auger |
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