Rango de amorfización del sistema metálico Mg Ga Sn
Aleaciones binarias y ternarias de composiciones no muy alejadas del punto eutéctico Mg₈₀.₈₇ Ga₁₉.₁₃ fueron enfriadas rápidamente desde el estado líquido por el método de "Splat Cooling". Las aleaciones originales y las muestras enfriadas rápidamente se caracterizaron por difracción de ray...
Guardado en:
| Autores principales: | , , , |
|---|---|
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1994
|
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v06_n01_p280 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Aleaciones binarias y ternarias de composiciones no muy alejadas del punto eutéctico Mg₈₀.₈₇ Ga₁₉.₁₃ fueron enfriadas rápidamente desde el estado líquido por el método de "Splat Cooling". Las aleaciones originales y las muestras enfriadas rápidamente se caracterizaron por difracción de rayos X, empleando radiación Kα del Cu. Se obtuvieron muestras parcialmente amorfas en un entorno reducido del punto eutéctico. Se determinaron los rangos de amortización parcial en el sistema binario MgGa y temario MgGaSn. Se discute la influencia del Sn en la capacidad de amortización |
|---|