Determinación de la orientación cristalográfica de granos en policristales de estructura cúbica
Determinaciones de orientación cristalográfica de pequeños granos (diámetro equivalente >20 μm) en materiales policristalinos base Fe y base Ni, de estructura BCC y FCC respectivamente, fueron realizadas a partir de diagramas de difracción de un haz divergente de rayos X. Los diagramas fueron obt...
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| Autores principales: | , , |
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| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
1989
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| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/20.500.12110/afa_v01_n01_p188 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Determinaciones de orientación cristalográfica de pequeños granos (diámetro equivalente >20 μm) en materiales policristalinos base Fe y base Ni, de estructura BCC y FCC respectivamente, fueron realizadas a partir de diagramas de difracción de un haz divergente de rayos X. Los diagramas fueron obtenidos por reflexión, en una cámara de Kossel instalada en una microsonda electrónica. El método utilizado permite determinar dos direcciones cristalográficas, una correspondiente a la normal a la superficie de la muestra, y la otra según una dirección contenida en el plano de la muestra. Se estimó la indeterminación del método utilizado para el cálculo de dichas direcciones en aproximadamente medio grado |
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