Desarrollo de una llave de conmutación automática para la comparación de resistores patrones

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Boaglio, C., Laiz, H., Iuzzolino, R., Melo, J., Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires, AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Español
Publicado: INTI 2002
Materias:
Resistores
Patrones
Conmutación
Llaves
Resistencia eléctrica
Sistemas computarizados
Mediciones eléctricas
Incertidumbre
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASHedff.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI

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