Berset, A., Grünhut, E., INTI. Sector Materiales, C. y. S. E. B. A., & electrónica, C. c. d. p. n. d. (1979). Estudio y puesta a punto de la técnica de medición de espesores de capas epitaxiales por el método de interferometría infrarroja. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos.
Cita Chicago Style (17a ed.)Berset, Alberto, Enrique Grünhut, Componentes y Sistemas Electrónicos. Buenos Aires INTI. Sector Materiales, y Congreso científico del programa nacional de electrónica. Estudio Y Puesta a Punto De La Técnica De Medición De Espesores De Capas Epitaxiales Por El Método De Interferometría Infrarroja. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos, 1979.
Cita MLA (8a ed.)Berset, Alberto, et al. Estudio Y Puesta a Punto De La Técnica De Medición De Espesores De Capas Epitaxiales Por El Método De Interferometría Infrarroja. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos, 1979.