Towards a metrology class ADC based on Josephson junction devices

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Belcher, Allan, Williams, Jonathan, Ireland, Jane, Iuzzolino, Ricardo, Bierzychudek, Marcos E., Dekker, Ronald, Herick, Jonas, Behr, Ralf, Schaapman, Kars, World Congress of the International Measurement Confederation (IMEKO), 12
Formato: conferenceObject
Lenguaje:Inglés
Publicado: IOP 2018
Materias:
Voltaje
Corriente alterna
Corriente continua
Metrología
Mediciones eléctricas
Acceso en línea:http://www-biblio.inti.gob.ar:80/gsdl/collect/inti/index/assoc/HASH7ccc.dir/doc.pdf
Aporte de:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI) de INTI
Descripción
Descripción no disponible.

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