Corengia, P., Ybarra, G., Mendive, D., Egidi, D., Fraigi, L., Quinteiro, M., . . . Jornadas de desarrollo e innovación, 3. (2000). Estudio por microscopía de fuerza atómica de películas delgadas depositadas por PVD (physical vapor deposition) sobre Si (100). INTI-Mecánica.
Cita Chicago Style (17a ed.)Corengia, Pablo, et al. Estudio Por Microscopía De Fuerza Atómica De Películas Delgadas Depositadas Por PVD (physical Vapor Deposition) Sobre Si (100). INTI-Mecánica, 2000.
Cita MLA (8a ed.)Corengia, Pablo, et al. Estudio Por Microscopía De Fuerza Atómica De Películas Delgadas Depositadas Por PVD (physical Vapor Deposition) Sobre Si (100). INTI-Mecánica, 2000.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.