Silva, H., Monasterios, G., Henze, A., Tempone, N., & INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires, A. (2012). Incertidumbre por desadaptación en RF - parte 2. INTI-Electrónica e Informática.
Cita Chicago Style (17a ed.)Silva, H., G.uillermo Monasterios, A. Henze, N. Tempone, y AR INTI-Electrónica e Informática. Laboratorio Metrología RF & Microondas. Buenos Aires. Incertidumbre Por Desadaptación En RF - Parte 2. INTI-Electrónica e Informática, 2012.
Cita MLA (8a ed.)Silva, H., et al. Incertidumbre Por Desadaptación En RF - Parte 2. INTI-Electrónica e Informática, 2012.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.