Álvarez, R., Ugarteche, S., Amore, S., Loiacono, N., Schvartz, M., Spina, J., . . . TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, I. y. T. T. (2017). Arqueometría: Técnicas de rayos X aplicadas al análisis químico en patrimonio cultural. INTI.
Cita Chicago Style (17a ed.)Álvarez, R., S. Ugarteche, S. Amore, N. Loiacono, M. Schvartz, J. Spina, D. Álvarez, y Innovación y Transferencia Tecnológica TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo. Arqueometría: Técnicas De Rayos X Aplicadas Al Análisis Químico En Patrimonio Cultural. INTI, 2017.
Cita MLA (8a ed.)Álvarez, R., et al. Arqueometría: Técnicas De Rayos X Aplicadas Al Análisis Químico En Patrimonio Cultural. INTI, 2017.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.