Monasterios, G., Silva, H., Henze, A., Tempone, N., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, A., & SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica, 1. (2013). Ampliación del alcance en frecuencia en la medición de parámetros de dispersión del Laboratorio de RF y Microondas del INTI. s.n.
Cita Chicago Style (17a ed.)Monasterios, G., H. Silva, A. Henze, N. Tempone, AR Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, y 10 SEMETRO. Congreso Internacional de Metrología Eléctrica. Ampliación Del Alcance En Frecuencia En La Medición De Parámetros De Dispersión Del Laboratorio De RF Y Microondas Del INTI. s.n, 2013.
Cita MLA (8a ed.)Monasterios, G., et al. Ampliación Del Alcance En Frecuencia En La Medición De Parámetros De Dispersión Del Laboratorio De RF Y Microondas Del INTI. s.n, 2013.