Guía de procedimientos para la extracción de datos en dispositivos móviles dañados

Fil: El objetivo de este trabajo es elaborar una guía para investigadores forenses especialistas en dispositivos móviles, que los capacite en la extracción de datos de dispositivo que se encuentren dañados. En primer lugar se describe la extracción de datos mediante técnica “JTAG”, luego se abord...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ferrari, Fernando
Otros Autores: Appendino, Sergio
Formato: Tesis de maestría acceptedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad FASTA. Facultad de Ingeniería. 2022
Materias:
ISP
Acceso en línea:http://dspace.ufasta.edu.ar/handle/123456789/1015
Aporte de:
Descripción
Sumario:Fil: El objetivo de este trabajo es elaborar una guía para investigadores forenses especialistas en dispositivos móviles, que los capacite en la extracción de datos de dispositivo que se encuentren dañados. En primer lugar se describe la extracción de datos mediante técnica “JTAG”, luego se aborda la extracción mediante una conexión “ISP” y por último se ve la más invasiva, conocida como “chip-off”. Luego desarrollan las recomendaciones y herramientas necesarias para la solución de los problemas más comunes que podemos encontrar a la hora de intentar extraer datos de un dispositivo móvil. Por último se presenta una introducción a las nuevas tecnologías de memorias y las principales herramientas para su lectura. La presente guía también aporta conocimientos de electrónica práctica para poder utilizar las técnicas de extracción de datos propuestas para los distintos tipos de dispositivos móviles. El especialista forense obtendrá una introducción a las técnicas básicas de reparación de dispositivos móviles que lo ayudaran a llegar a una extracción de datos exitosa. Esta guía servirá de apoyo a quien se inicie en estas técnicas. Por otro lado, al usuario avanzado, le será útil a la hora de avanzar más rápido a la extracción de datos en memorias modernas.