Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos
El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.
Guardado en:
| Autor principal: | Petrashin, Pablo Antonio dir. |
|---|---|
| Formato: | proyecto_de_investigacion |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2016
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf |
| Aporte de: |
Ejemplares similares
-
Diseño y test de circuitos integrados para sistemas de comunicaciones inalámbricas
por: Castagnola, Juan Luis dir.
Publicado: (2016) -
Diseño de celdas analógicas embebidas en sistemas en un chip (SOC)
por: Toledo, Luis Eduardo, et al.
Publicado: (2009) -
Applying the Analog Configurability Test Approach in a Wireless
Sensor Network Application
por: Laprovitta, Agustín Miguel, et al.
Publicado: (2014) -
New low-voltage electrically tunable triode-MOSFET transconductor and its application to low-frequency Gm-C filtering
por: Dualibe, Fortunato Carlos Augusto, et al.
Publicado: (2005) -
Sistemas inteligentes para apoyo a los procesos productivos. PAV 2004-0003-00076
por: Toledo, Luis Eduardo, et al.
Publicado: (2005)