Monitoreo y control estadístico de atributos en procesos con alta tasa de producción y bajo número de defectos: aplicación a un caso real de planta

Los procesos de alta calidad se basan en una baja tasa de productos no conformes. Tradicionalmente el monitoreo de los procesos se realiza a través de los gráficos tradicionales de Shewhart (3-sigma), basados en la aproximación normal. Pero este tipo de gráfico no es exacto cuando la tasa de defecto...

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fürth, Patricia Alejandra Carolina von
Otros Autores: Joekes, Silvia
Formato: Tesis de maestría
Lenguaje:Español
Publicado: 2013
Materias:
QD Química
TALIM Tecnología de los Alimentos
Acceso en línea:http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/121/1/TM_Furth.pdf
Aporte de:
Producción Académica Universidad Católica de Córdoba (UCCor) de Universidad Católica de Córdoba

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