Oxidos delgados para micro y nanoelectrónica : degradación, ruptura y aplicaciones tecnológicas

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El trabajo desarrollado en esta Tesis se focaliza en el estudio de mecanismos de transporteeléctrico involucrados en la degradación y eventual ruptura de películas dieléctricas (óxidosdelgados). Éstos forman parte de una infinidad de dispositivos que son fabricados en vistas deposibles aplicaciones...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor principal: Quinteros, Cynthia Paula
Otros Autores: Palumbo, Félix
Formato: Tesis doctoral publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 2016
Materias:
DIELECTRICOS DE ALTA CONSTANTE
DEGRADACION
RUPTURA
CONMUTACION RESISTIVA
RADIACION
HIGH-K DIELECTRICS
DEGRADATION
BREAKDOWN
RESISTIVE SWITCHING
RADIATION
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n5923_Quinteros
https://repositoriouba.sisbi.uba.ar/gsdl/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=aextesis&d=tesis_n5923_Quinteros_oai
Aporte de:
Repositorio Digital de la Universidad de Buenos Aires (UBA) de Universidad de Buenos Aires

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