Estudio de la dinámica de los sistemas memristivos : efecto del ruido y la temperatura en el fenómeno de la conmutación resistiva

Mostrar todas las versiones(3)

El objetivo de esta Tesis es el de estudiar el efecto del ruido eléctricoy la temperatura en sistemas memristivos. Este tipo de sistemaspresenta el fenómeno conocido como conmutación resistiva (CR), enel cual se basan las memorias electrónicas ReRAM. Básicamente, la CR se caracteriza por el cambio a...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Patterson, Germán A.
Otros Autores: Fierens, Pablo I.
Formato: Tesis doctoral publishedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales 2014
Materias:
CONMUTACION RESISTIVA
MEMRISTOR
RUIDO
TEMPERATURA
RESISTIVE SWITCHING
NOISE
TEMPERATURE
Acceso en línea:https://hdl.handle.net/20.500.12110/tesis_n5625_Patterson
https://repositoriouba.sisbi.uba.ar/gsdl/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=aextesis&d=tesis_n5625_Patterson_oai
Aporte de:
Repositorio Digital de la Universidad de Buenos Aires (UBA) de Universidad de Buenos Aires

Ejemplares similares

Ejemplares similares