Escáner de campo cercano para compatibilidad electromagnética (EMC)

Grado obtenido: Magister de la Universidad de Buenos Aires en Sistemas Embebidos

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Alonso, Ramiro
Otros Autores: Fano, Walter Gustavo
Formato: Tesis de maestría acceptedVersion
Lenguaje:Español
Publicado: Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ingeniería 2018
Materias:
Acceso en línea:https://bibliotecadigital.fi.uba.ar/items/show/18394
https://bibliotecadigital.fi.uba.ar/files/original/fb7ed8a9e5f02d1f70a439a98bfadd08.pdf
https://repositoriouba.sisbi.uba.ar/gsdl/cgi-bin/library.cgi?a=d&c=aigmaster&d=18394_oai
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Descripción
Sumario:Grado obtenido: Magister de la Universidad de Buenos Aires en Sistemas Embebidos