Tecnología láser para la remoción de <i>smear layer</i> en el conducto radicular de incisivos centrales superiores

Actualmente hay innumerables metodos propuestos para realizar la instrumentación del conducto radicular entre ellos esta propuesto la utilización de Laser de Er:YAG. El objetivo del presente trabajo invitro, es estudiar la presencia de detritos en las paredes dentinarias de los conductos radiculares...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cantarini, Luis Martín, Milat, Edith I., Procacci, Mario, Etchegoyen, Liliana Margarita, García Gadda, Gustavo, García Gadda, Bernardo
Formato: Objeto de conferencia Resumen
Lenguaje:Español
Publicado: 2009
Materias:
Odontología
tecnología láser
smear layer
conductos radiculares
incisivo central superior
Acceso en línea:http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/75429
Aporte de:
SEDICI (UNLP) de Universidad Nacional de La Plata
Descripción
Sumario:Actualmente hay innumerables metodos propuestos para realizar la instrumentación del conducto radicular entre ellos esta propuesto la utilización de Laser de Er:YAG. El objetivo del presente trabajo invitro, es estudiar la presencia de detritos en las paredes dentinarias de los conductos radiculares de incisivos centrales superiores. Poterior a la instrumentación con limas tipo K y laser de Er:YAG, se realizó el estudio al Microscopio Electronico de Barrido para determinar la presencia de los mismos.

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