Tomás Quirino, C., & Sancén Contreras, F. (2015). Ubicación de riesgos en el trabajo a nanoescala Una visión desde la ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencia y Nanotecnología.
Cita Chicago Style (17a ed.)Tomás Quirino, Carlos, y Fernando Sancén Contreras. Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una Visión Desde La ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencia y Nanotecnología, 2015.
Cita MLA (8a ed.)Tomás Quirino, Carlos, y Fernando Sancén Contreras. Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una Visión Desde La ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencia y Nanotecnología, 2015.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.