Tais, C. E., Peretti, G. M., Romero, E. A., Demarco, G. L., & https://orcid.org/0000-0003-1489-7982. (2024). Impacto de la consideración de la compuerta en los efectos termoelásticos observados en transistores de potencia durante un proceso de quemado por evento único.
Cita Chicago Style (17a ed.)Tais, Carlos Esteban, Gabriela Marta Peretti, Eduardo Abel Romero, Gustavo Luis Demarco, y https://orcid.org/0000-0003-1489-7982. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2024.
Cita MLA (8a ed.)Tais, Carlos Esteban, et al. Impacto De La Consideración De La Compuerta En Los Efectos Termoelásticos Observados En Transistores De Potencia Durante Un Proceso De Quemado Por Evento único. 2024.