Propuesta de un método de test de mantenimiento para secciones analógicas configurables

Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Dri, Emanuel, Peretti, Gabriela, Romero, Eduardo
Formato:	conferenceObject
Lenguaje:	Español
Publicado:	2024
Materias:	Mixed analog digital integrated circuits Switched capacitor circuits Trasientresponse analysis method Second order filters
Acceso en línea:	http://hdl.handle.net/11086/552348
Aporte de:	Repositorio Digital Universitario (UNC) de Universidad Nacional de Córdoba

Descripción
Sumario:	Ponencia presentada en el VIII Congreso de microelectrónica aplicada. Córdoba 11 al 13 de octubre de 2017.

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