MaskD : a tool for measuring masking fault-tolerance
Fil: Putruele, Luciano. Universidad Nacional de Rı́o Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas, Físico-Químicas y Naturales. Departamento de Computación; Argentina.
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| Autores principales: | , , , |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | publishedVersion article |
| Lenguaje: | Español Inglés |
| Publicado: |
2023
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/11086/546727 https://doi.org/10.1007/978-3-030-99524-9_22 |
| Aporte de: |
| Sumario: | Fil: Putruele, Luciano. Universidad Nacional de Rı́o Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas, Físico-Químicas y Naturales. Departamento de Computación; Argentina. |
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