MaskD : a tool for measuring masking fault-tolerance

Fil: Putruele, Luciano. Universidad Nacional de Rı́o Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas, Físico-Químicas y Naturales. Departamento de Computación; Argentina.

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Putruele, Luciano, Demasi, Ramiro Adrián, Castro, Pablo Francisco, D'Argenio, Pedro Ruben
Otros Autores: https://orcid.org/0000-0002-3063-4704
Formato: publishedVersion article
Lenguaje:Español
Inglés
Publicado: 2023
Materias:
Acceso en línea:http://hdl.handle.net/11086/546727
https://doi.org/10.1007/978-3-030-99524-9_22
Aporte de:
Descripción
Sumario:Fil: Putruele, Luciano. Universidad Nacional de Rı́o Cuarto. Facultad de Ciencias Exactas, Físico-Químicas y Naturales. Departamento de Computación; Argentina.