Automatización de la adquisición y análisis de parámetros indicadores de degradación en MOSFET de potencia
Tesis (Lic. en Cs. de la Computación)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía, Física y Computación, 2020.
Guardado en:
| Autor principal: | Acosta Bazán, Alejandra Celestina |
|---|---|
| Otros Autores: | Vélez Ibarra, María Delfina |
| Formato: | bachelorThesis |
| Lenguaje: | Español |
| Publicado: |
2020
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | http://hdl.handle.net/11086/15866 |
| Aporte de: |
Ejemplares similares
-
Automatización de la adquisición y análisis de parámetros indicadores de degradación en MOSFET de potencia
por: Acosta Bazán, Alejandra Celestina
Publicado: (2020) -
Control de plataforma de degradación acelerada de transistores de potencia
por: Marchi, Brian Ezequiel
Publicado: (2020) -
Control de plataforma de degradación acelerada de transistores de potencia
por: Marchi, Brian Ezequiel
Publicado: (2020) -
Aspectos de implementación en una interfaz I2C para controladores PSoC y AVR
por: Oliva, Rafael B., et al.
Publicado: (2011) -
Power mosfets : for commercial and high reliability applications /
Publicado: (1994)