La incursión de los profesionales de la información en vigilancia tecnológica e inteligencia estratégica en Argentina [Separata] /

La vigilancia tecnológica y la inteligencia estratégica (VTeIE) son áreas de influencia para la bibliotecología y ciencia de la información (ByCI), ya que implican funciones de búsqueda, gestión y diseminación de información especializada. Representan una expansión de las incumb...

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Pandolfo, Milagros (Autor), Hernández, Alicia Beatriz (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:Español
Materias:
Acceso en línea:https://doi.org/10.24215/18539912e220
Aporte de:Registro referencial: Solicitar el recurso aquí
Descripción
Sumario:La vigilancia tecnológica y la inteligencia estratégica (VTeIE) son áreas de influencia para la bibliotecología y ciencia de la información (ByCI), ya que implican funciones de búsqueda, gestión y diseminación de información especializada. Representan una expansión de las incumbencias profesionales dentro del ámbito científico y tecnológico, a la par que involucran necesariamente un enfoque interdisciplinario. El presente estudio describe la vinculación existente entre el perfil del profesional de la información, el proceso de VTeIE y el Sistema Nacional de Ciencia, Tecnología e Innovación (SNCTI) en Argentina. Para ello se llevaron adelante los relevamientos y el análisis de los sitios web oficiales de los organismos públicos que lo componen y se realizaron entrevistas y cuestionarios a expertos. Los resultados revelaron que los profesionales de la información componen el 31% de los equipos de trabajo analizados y que actualmente se encuentran asumiendo un rol protagónico en los organismos del SNCTI que realizan este tipo de procesos, generando productos con alto valor agregado para la gestión del conocimiento y la innovación. En conclusión, estos hallazgos destacan el perfil tecnológico actual de ByCI, la importancia de su participación en el campo científico y su papel fundamental en el monitoreo estratégico de información a través de la VTeIE.
Descripción Física:15 p.
Bibliografía:incl. ref.
ISSN:1853-9912
DOI:10.24215/18539912e220