Undergraduate experiment to measure the speed of sound in liquid by diffraction of light

por Luna, D.A., Real, M.A., Durán, D.V.

Design and fabrication of high value standard resistors at INTI

por Bierzychudek, M., Garcia, R., Real, M., Tonina, A., INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Conference on precision electromagnetic measurements
Publicado 2008

Estudio de propiedades termoeléctricas en sistemas bidimensionales

por Real, M., Tonina, A., Giudici, P., Arrachea, L., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017

Estudio de propiedades termoeléctricas en sistemas bidimensionales

por Real, M., Tonina, A., Giudici, P., Arrachea, L., TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13
Publicado 2017

10 V measurements with 1V-JVS using a resistive voltage divider

por Bierzychudek, Marcos E., Iuzzolino, Ricardo, Tonina, Alejandra, Real, M., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Conference on Precision Electromagnetic Measurements. CPEM
Publicado 2010

Sistema potenciométrico de medición de resistencia de bajo valor y tensión continua

por Real, M.A., Bierzychudek, M.E., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12
Publicado 2015

Sistema potenciométrico de medición de resistencia de bajo valor y tensión continua

por Real, M.A., Bierzychudek, M.E., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12
Publicado 2015

Bilateral Comparison of 1.018 V and 10 V Standards between the INTI (Argentina) and the BIPM, August to October 2009 (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K11.a and b)

por Bierzychudek, Marcos E., Tonina, Alejandra, Iuzzolino, R., Real, M., Solve, S., Chayramy, R., Stock, M., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Sèvres, FR
Publicado 2009

Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar

por Real, M.A., Tonina, A., Elmquist, R.E., Lass, E.A., Liu, F.H., Soons, J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Tecgnology. NIST. Maryland, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013

Crecimiento epitaxial de grafeno en SiC(0001) para su aplicación como resistencia estándar

por Real, M.A., Tonina, A., Elmquist, R.E., Lass, E.A., Liu, F.H., Soons, J., Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires, AR, National Institute of Standards and Tecgnology. NIST. Maryland, AR, TecnoINTI edición 2013. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 11
Publicado 2013