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Título
1
Testing of a MEMS SOI microrelay
por
Lozano, A.
,
Malatto, L.
,
Fraigi, L.
,
Lupi, D.
,
INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR
,
LATW2004
,
IEEE
Latin
-
American
Test
Workshop
,
5
Publicado 2004
Aportado por:
Repositorio Institucional del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI)
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