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Titulos:
Sampling techniques
Lugar de Edición:
New York :
Editor:
Wiley,
Fecha de Edición:
1963
Edición #:
2nd ed.
Palabras clave:
TEORIA DE MUESTREO; ERRORES DE MUESTREO; MUESTREO SISTEMATICO; DISTRIBUCIONES DE MUESTREO; MUESTREO ALEATORIO; PROBABILIDAD; MUESTREO
Leader:
cam
Campo 003:
AR-BaUFI
Campo 008:
970526s1963 xxua|||| |||||||||||eng|c
Campo 040:
^aAR-BaUFI
Campo 044:
^axxu^cus
Campo 100:
1 ^aCochran, William Gemmell^d1909-^93478
Campo 245:
00^aSampling techniques
Campo 246:
Campo 250:
^a2nd ed.
Campo 260:
^aNew York : ^bWiley, ^c1963
Campo 300:
^a413 p. : ^bil., diagrs., tablas ; ^c23 cm
Campo 490:
0 ^aWiley Series in Probability and Mathematical Statistics
Campo 650:
7^aTEORIA DE MUESTREO^2SP^922202
Campo 650:
7^aERRORES DE MUESTREO^2SP^917919
Campo 650:
7^aMUESTREO SISTEMATICO^2SP^920099
Campo 650:
7^aDISTRIBUCIONES DE MUESTREO^2SP^917428
Campo 650:
7^aMUESTREO ALEATORIO^2SP^920094
Campo 650:
7^aPROBABILIDAD^2EIT^920740
Campo 650:
7^aMUESTREO^2EIT^920093
Proveniencia:
^aUBA - Facultad de Ingeniería - Biblioteca
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Institucion:
Universidad de Buenos Aires (UBA)
Dependencia:
Facultad de Ingeniería

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